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【24h】

Carbon Dooinq and Etchina in Ga_x In_(1-x) As_y P_(1-y) on GaAs substrates Using CBr_4 by Metalorganic Chemical vapor Deposition

机译:金属有机化学气相沉积法使用CBr_4在GaAs衬底上Ga_x In_(1-x)As_y P_(1-y)中的Dooinq和Etchina碳

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摘要

Carbon doping and etching by CBr_4 were studied for Ga_xIn_(1-x)As_yP_(1-y) (0≤y≤1) on GaAs grown by metalorganic chemical vapor deposition. It was found that the hole concentration drastically decreases with decreasing y when the flow rate of CBr_4 is constant. When y is under 0.5, the conduction type of GaInAsP changes to n-type. In the region of 0
机译:研究了通过金属有机化学气相沉积在GaAs上生长的Ga_xIn_(1-x)As_yP_(1-y)(0≤y≤1)对CBr_4进行的碳掺杂和腐蚀。发现当CBr_4的流量恒定时,空穴浓度随着y的减小而急剧降低。当y小于0.5时,GaInAsP的导电类型变为n型。在0 <y <0.6的区域中,表面形态劣化并且载流子补偿变得高于根据C浓度可以估计的。这似乎是由于微观缺陷造成的,因为该组成范围在理论上预测的不稳定区域内。在生长过程中观察到CBr_4的蚀刻效果。 InAsP组件的蚀刻速率大约是GaAsP组件的蚀刻速率的三倍。热力学分析表明,腐蚀是由于GaBr和InBr分压的增加所致。

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