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机译:铜导线电迁移过程中的局部熔化
Department of Materials Science and Engineering Lehigh University Bethlehem PA 18015 USA;
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Department of Materials Science and Engineering Lehigh University Bethlehem PA 18015 USA;
Electromigration (EM); Joule heating; melting; Cu;
机译:铜导线电迁移过程中的局部熔化
机译:电迁移引起的铜导线应变松弛
机译:铝导线在电迁移过程中的应变演化
机译:在电迁移过程中,原位X射线MicrobeM Cu荧光和应变测量(0.5×%CU)导体线
机译:热和电迁移引起金属导线中的应变和微观结构演变。
机译:Cu / Sn-3.0AG-0.5Cu / Cu / Cu / Cu / Cu焊点在电迁移期间锯齿状阴极溶解的结晶特征效应
机译:导体表面电迁移中的局部场:在低偏压弹道极限中的一项研究
机译:通孔导体几何形状对al:Cu导线电迁移失效的影响