机译:LPOMVPE生长的In_(0.2)Ga_(0.8)As / GaAs多层在接近衬底/缓冲液界面区域中的岛形核表征
Institute for Applied Research, Ben-Gurion University, P.O. Box 653 84105, Beer-Sheva, Israel;
A1. low dimensional structures; A1. X-ray diffraction; A3. low pressure metalorganic vapor phase epitaxy; A3. superlattices; B2. semiconducting Ⅲ-Ⅴ materials;
机译:在LPOMVPE的岛形成核过程中,在GaAs和AlAs缓冲液上生长的In_(0.2)Ga_(0.8)As / GaAs多层
机译:弹性松弛的LPOMVPE生长的In0.2Ga0.8As / GaAs多层膜中岛形成核过程的微观结构
机译:在GaAs衬底上生长的In_(0.2)Ga_(0.8)As外延层中失配位错的成核
机译:在GaAs和Ga_(0.8)上生长在GaAs和Ga_(0.2)的薄外延Fe膜的平面各向异性和磁致伸缩常数作为基板,CR叠加
机译:相干声子能谱分析卷起的GaAs / In0.2Ga0.8As多层管的界面黏附和结构表征
机译:应变Si0.2Ge0.8 / Ge多层堆叠在低/高温Ge缓冲层上长期生长,并选择性湿法蚀刻锗
机译:通过分子束外延在Gaas衬底上的Inalas缓冲层上生长的InGaas / alGaas子带间跃迁结构