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Evidence for Vacancy Clusters in Dislocation‐Free Ge

机译:无位错Ge中空位簇的证据

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摘要

This note reports evidence for the existence of vacancy aggregates in Ge crystals. When dislocations are absent over volumes of the order of cubic centimeters the crystal etches much more rapidly than when dislocations are present. This enhanced etching behavior can be eliminated by appropriate heat treatment at 800°C. Ridges of normal etching rate have been observed traversing the rapidly etched areas in 〈110〉 directions. Etch figures, usually spiral dislocations, are always associated with these ridges. Ridges are not observed in completely dislocation‐free crystals.
机译:本说明报告了锗晶体中空位聚集体的存在证据。当位错在立方厘米量级上不存在时,晶体的腐蚀比存在位错时快得多。可以通过在800°C下进行适当的热处理来消除这种增强的蚀刻性能。观察到正常蚀刻速率的脊在110〉方向横穿快速蚀刻区域。蚀刻图形(通常为螺旋形位错)始终与这些凸脊相关联。在完全无位错的晶体中未观察到脊。

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1958年第11期|共3页
  • 作者

    Tweet A. G.;

  • 作者单位

    General Electric Research Laboratory, Schenectady, New York;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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