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Measurement of source profile of proton beams generated by ultraintense laser pulses using a Thomson mass spectrometer

机译:使用汤姆森质谱仪测量超强激光脉冲产生的质子束的源轮廓

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摘要

For measuring the source profile of proton beams, a method using a Thomson mass spectrometer, which has precise energy resolution and enables the discrimination of ion species, was proposed and applied in an experiment with irradiation of 55-fs, 6.6 X 10~(18)-W/cm~2-laser pulses on a 5-μm-thick copper tape target. The typical measured source size was 150 μm at E=400 keV and 44 μm at E=980 keV in full width at half maximum.
机译:为了测量质子束的源剖面,提出了一种使用汤姆森质谱仪的方法,该方法具有精确的能量分辨率并能够区分离子种类,并在55-fs,6.6 X 10〜(18)的照射实验中得到了应用。 -W / cm〜2激光脉冲在厚5μm的铜带靶上。在E = 400 keV时,典型的测量光源尺寸为150μm,在E = 980 keV时为全尺寸(一半为最大值)。

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