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机译:薄合金薄膜定量X射线荧光分析中次级荧光激发的验证
Physikalisch-Technische Bundesanstalt Abbestr. 2-12 10587 Berlin Germany;
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机译:AP1〜(TM)薄膜上的同步辐射全反射X射线荧光和能量色散X射线荧光分析,用于分析金属合金中的痕量元素,用于构造核反应堆堆芯部件:比较
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机译:X射线荧光在总反射中的干扰效应分析薄膜的特定界面
机译:在脉冲冷却条件下通过脉冲激光沉积[和]自由基,氟代亚甲基和氯卡宾的荧光激发光谱和原子荧光测量方法生长的金属氧化物薄膜的结构特征,以及荧光寿命的测量。
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机译:薄合金薄膜定量X射线荧光分析中次级荧光激发的验证
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