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A novel device for gas-phase sample introduction into microwave plasma: Lateral Sample Introduction

机译:一种用于将气相样品引入微波等离子体的新型装置:横向样品引入

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摘要

This work presents a new technique to introduce molecular gases into atmospheric pressure microwave plasma named as Lateral Sample Introduction (LSI). The LSI device bypasses the active plasma generation region and so avoids plasma instability when introducing molecular gases, such as those arising from hydride generation. The technique was assessed by arsenic determination in aqueous solution after hydride generation. The LSI enables the plasma to support the entrance of the gaseous by-products from the derivative reaction without any intermediate step to reduce them.
机译:这项工作提出了一种将分子气体引入大气压微波等离子体的新技术,称为横向样品引入(LSI)。 LSI器件绕过了有源等离子体产生区域,因此避免了在引入分子气体(例如由氢化物产生的气体)时产生的等离子体不稳定。氢化物生成后,通过水溶液中的砷测定来评估该技术。 LSI使等离子体能够支持衍生反应生成的气态副产物的进入,而无需任何减少它们的中间步骤。

著录项

  • 来源
    《Journal of Analytical Atomic Spectrometry》 |2011年第9期|p.1863-1867|共5页
  • 作者单位

    Grupo de Espectroscopia de plasmas, Campus de Rabanales, 14091 Córdoba, Spain;

    Grupo de Espectroscopia de plasmas, Campus de Rabanales, 14091 Córdoba, Spain;

    Grupo de Espectroscopia de plasmas, Campus de Rabanales, 14091 Córdoba, Spain;

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  • 正文语种 eng
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