机译:散装散装富含SiGe:无弹性X射线散射研究
Kioxia Corp Inst Memory Technol R&D Kawasaki Kanagawa 2128572 Japan;
Meiji Univ Sch Sci & Technol Kawasaki Kanagawa 2148571 Japan;
Meiji Univ Sch Sci & Technol Kawasaki Kanagawa 2148571 Japan|Chiyoda Ku Tokyo 1020083 Japan;
Japan Synchrotron Radiat Res Inst JASRI Sayo Hyogo 6795198 Japan;
Japan Synchrotron Radiat Res Inst JASRI Sayo Hyogo 6795198 Japan;
Tohoku Univ Inst Mat Res IMR Sendai Miyagi 9808577 Japan;
Meiji Univ Sch Sci & Technol Kawasaki Kanagawa 2148571 Japan;
IXS; phonon dispersion; inelastic X-ray scattering; SiGe;
机译:通过非弹性X射线散射观察到散装硅 - 锗中的异常低能量声子分散体
机译:PbTe和(Pb,Cd)Te固溶体中声子扩散的非弹性X射线散射研究
机译:使用高能分辨率非弹性X射线散射(IXS)研究晶体材料的声子色散
机译:非弹性X射线散射对散装硅锗的声子分散关系评价
机译:高压下核共振非弹性X射线散射的铁中57铁和161-状态的声子密度
机译:LiCrO2中非弹性X射线散射探测的电磁子弥散
机译:使用非弹性X射线散射测量的Mo稳定γ-U的声子分散