机译:块状和完全耗尽的绝缘体上硅氧化物金属氧化物半导体场效应晶体管的漏极引起的势垒降低和电流起始电压可变性的栅极长度和栅极宽度依赖性
Institute of Industrial Science, University of Tokyo, Meguro, Tokyo 153-8505, Japan;
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机译:先进的金属氧化物半导体场效应晶体管中散热噪声的栅极长度和漏极电压依赖性
机译:在正向和反向沟道热载流子应力下,电荷俘获引起的高k /金属栅极n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管中不同的漏极诱导势垒降低变化的物理理解
机译:在正向和反向沟道热载流子应力下,电荷俘获引起的高k /金属栅极n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管中不同的漏极诱导势垒降低变化的物理理解
机译:由随机离散掺杂剂引起的16 nm栅体FinFET器件中的漏极诱导势垒降低和亚阈值摆幅波动
机译:纳米N沟道和P沟道金属氧化物半导体场效应晶体管的超薄氧化物和氮化物/氧化物堆叠的栅极电介质研究
机译:顶部栅极石墨烯场效应晶体管中金属石墨烯触点的栅极控制肖特基势垒降低的物理模型
机译:通过栅漏电容测量评估亚微米n(金属氧化物半导体场效应晶体管)中热孔诱导的界面态和俘获的载流子
机译:在蓝宝石上的500 a薄膜硅中制造具有0.2微米栅极长度的n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管。 (重新公布新的可用性信息)