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机译:使用改进的基于金属基板的毫米波椭圆仪对材料性能进行光谱测量
Department of Microelectronics, Fraunhofer Institute for Applied Solid State Physics, Freiburg im Breisgau, Germany;
Department of Microelectronics, Fraunhofer Institute for Applied Solid State Physics, Freiburg im Breisgau, Germany;
Department of Microelectronics, Fraunhofer Institute for Applied Solid State Physics, Freiburg im Breisgau, Germany;
Department of Microelectronics, Fraunhofer Institute for Applied Solid State Physics, Freiburg im Breisgau, Germany;
Department of Microelectronics, Fraunhofer Institute for Applied Solid State Physics, Freiburg im Breisgau, Germany;
Fraunhofer Institute for Applied Solid State Physics, Freiburg im Breisgau, Germany;
Antenna measurements; Dielectric measurement; Ellipsometry; Frequency measurement; Power measurement; Dielectrics; Horn antennas;
机译:固定极化旋转分析仪椭球仪表征CuinsE2本体材料的光学性质
机译:基于直接测量偏振椭圆率的光谱椭圆仪
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机译:基于动态光谱椭圆仪的大规模自由形表面超薄膜涂层均匀性测量
机译:低整体对称性的氧化还原活性三价金属表面活性剂,用于基于分子的电子产品:用于m / LB单层/ m器件中电流电压测量的新型分子材料的光谱,电化学和两亲性质。
机译:高密度电脉冲在改善金属材料性能中的应用:机理微观结构和性能
机译:基于分子的电子学具有低全局对称性的氧化还原活性三价金属表面活性剂:用于m lb-单分子膜介电电压测量的新分子材料的光谱,电化学和两亲性质
机译:通过10.6微米和0.6328微米椭圆偏振仪测量和0.6328微米反射器测量,在KCl基板上的as2s3,as2se3和Znse薄膜中的应变诱导各向异性。