机译:使用外壳温度实时监控IGBT模块的老化
Power and Energy Systems Laboratory, Department of Electrical and Computer Engineering, University of Nebraska???Lincoln, Lincoln, NE, USA;
Aging monitoring; case temperature; insulated-gate bipolar transistor (IGBT); insulatedgate bipolar transistor (IGBT); power electronic converter;
机译:使用情况温度的IGBT模块的实时监测焊接疲劳
机译:评估
机译:使用IGBT模拟器估计IGBT模块的功率损耗,温度和功率周期寿命
机译:评估IGBT电源模块的实时状态电压V
机译:IGBT模块的实时内部温度估算和健康监控。
机译:基于实时太阳辐射和空间温度监测的温度场边界条件与PC箱梁桥梁横向温度梯度效应
机译:栅极 - 发射器预阈值电压作为EGBT芯片故障监控的Health敏感参数,在高压MultiChip IGBT电源模块中监控