Алгоритм распознавания функциональных ячеек топологий интегральных микросхем на базовом матричном кристалле

摘要

В статье рассмотрен подход к предварительной обработке цифровых изображений слоев металлизации кристаллов полузаказных интегральных микросхем на базовом матричном кристалле, реализация которого позволяет эффективно выделять переходные отверстия (контакты) на подобных изображениях. Предложен алгоритм распознавания функциональных ячеек топологии интегральной микросхемы на базовом матричном кристалле по структурам, образуемым переходными отверстиями.%An article describes an approach to the pre-processing of digital images of the metallization layers of semi-custom integrated circuits crystals on gate-array, the implementation of which allows to effectively select vias (contacts) in such images. An algorithm for recognizing functional cells of the topology of an integrated circuit on gate-array according to the structures formed by vias is proposed.