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三次元NANDフラッシュメモリに最適な縦型アレイデバイス開発

机译:最适合三维NAND闪存的垂直阵列器件的开发

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摘要

三次元NANDフラッシュメモリ(BiCS Flash=Bit-Cost Scalable Flash)に最適な縦型アレイデバイスを開発した.BiCS Flashに特有の「ゲート先作り」プロセスと整合性の良いシリコン窒化膜系ゲート絶縁膜を用い,またディプリーション型ポリシリコン・トランジスタのサブスレッショルド特性改善のためにマカロニ型ボディ・トランジスタを適用した.これら技術に加えて,さらに新規4F!2セルアレイ構造をとることで,BiCS Flashが,微細化のみに頼らずに継続的なビットコスト低減を実現可能な,将来の大容量不揮発メモリとして有効な技術であることを示した.%Optimal process integration for array devices of Bit-Cost Scalable (BiCS) flash memory is successfully developed. We adopt SiN-based gate dielectrics for the consistency with the 'gate-first' process which is unique to BiCS flash technology, and 'macaroni' body FETs for better controllability over the sub-threshold characteristics of depletion-mode poly-silicon transistors. With these technologies and newly devised 4F2 cell array, BiCS flash becomes a promising candidate for future ultra-high density memory.
机译:我们开发了一种垂直阵列设备,该设备最适合三维NAND闪存(BiCS闪存=比特成本可扩展闪存)。使用与BiCS Flash独有的“栅极预制”工艺高度兼容的氮化硅栅极绝缘膜,并使用通心粉型体晶体管来改善耗尽型多晶硅晶体管的亚阈值特性。做到了。除这些技术外,BiCS Flash还采用了新的4F!2单元阵列结构,是一种有效的技术,可用于未来的大容量非易失性存储器,该技术可实现连续的比特成本降低,而无需仅仅依靠小型化。结果表明。 %成功开发了针对位成本可扩展(BiCS)闪存的阵列器件的最佳工艺集成。我们采用基于SiN的栅极电介质,以实现与BiCS闪存技术独有的``栅极优先''工艺和``通心粉''的一致性'体FET可更好地控制耗尽型多晶硅晶体管的亚阈值特性。凭借这些技术和新设计的4F2单元阵列,BiCS闪存成为未来超高密度存储器的有希望的候选者。

著录项

  • 来源
    《電子情報通信学会技術研究報告》 |2008年第455期|p.25-28|共4页
  • 作者单位

    神奈川県横浜市磯子区新杉田町8;

    株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター;

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    株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター;

    株式会社東芝セミコンダクター社半導体研究開発センター;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 00:36:54

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