机译:各种缺陷密度分布的集成电路成品率和时变可靠性的关系
Burn-in; Defect density distribution; Extrinsic failures; Yield;
机译:晶圆间的缺陷密度变化对集成电路缺陷和故障分布的影响
机译:新的缺陷尺寸分布函数,用于估计集成电路成品率模型(CMOS)中的芯片临界面积
机译:基于缺陷的紧凑建模方法,用于CMOS器件和集成电路的可靠性
机译:随时间变化的模拟集成电路的良率近似
机译:使用集成电路作为虚拟测试结构提取缺陷密度和尺寸分布。
机译:神经回路:通过空间受限的光遗传学激活并集成高密度光电电极对神经活动进行近端和远端调节
机译:半导体集成电路的可靠性-收益分配:建模和优化
机译:半导体元件和集成电路的缺陷及良率分析