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机译:依存竞争失败过程的剩余使用寿命预测的顺序贝叶斯方法
Beihang Univ, Sch Reliabil & Syst Engn, Beijing 100083, Peoples R China;
Univ Paris Saclay, Cent Supelec, Lab Genie Ind, Chair Syst Sci & Energy Challenge,Fdn Elect Franc, F-4103 Gif Sur Yvette, France;
Univ Paris Saclay, Cent Supelec, Lab Genie Ind, Chair Syst Sci & Energy Challenge,Fdn Elect Franc, F-4103 Gif Sur Yvette, France|Politecn Milan, Energy Dept, I-20133 Milan, Italy;
Beihang Univ, Sch Reliabil & Syst Engn, Beijing 100083, Peoples R China;
Beihang Univ, Sch Reliabil & Syst Engn, Beijing 100083, Peoples R China;
Degradation; dependent competing failure processes; Markov chain Monte Carlo; particle filtering; prognostics; random shocks; remaining useful life;
机译:劣化建模和剩余的依赖竞争失败过程的使用寿命预测
机译:一个序贯贝叶斯更新的维纳流程模型,用于剩余使用寿命预测
机译:普及竞争风险模型的贝叶斯分析,逐步循环减刑下逐步加速寿命试验失败的屏蔽原因
机译:基于维纳过程和贝叶斯估计范式的新的独立组件剩余使用寿命预测方法
机译:经受多个相关竞争失败过程的多组件系统可靠性分析和维护建模。
机译:一种贝叶斯探讨纵向测量和竞争风险的联合分析失效时间数据
机译:一个序贯贝叶斯更新的维纳流程模型,用于剩余使用寿命预测
机译:基于贝叶斯概率模型的固态灯具寿命预测与失效模式分类。