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Physical Modeling of Fast p-i-n Diodes With Carrier Lifetime Zoning, Part II: Parameter Extraction

机译:带载波寿命分区的快速p-i-n二极管的物理建模,第二部分:参数提取

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摘要

In this paper, a parameter extraction procedure for high-voltage diodes with local lifetime control is proposed. It is designed for use with the physics-based diode model described in Part I, which is capable of simulating diodes with local lifetime control. The parameter extraction procedure described requires a forward characteristic and a reverse recovery measurement. The parameter extraction procedure is illustrated using finite-element simulations. The physics-based model using the parameters extracted is then compared with experimental results.
机译:本文提出了一种具有局部寿命控制的高压二极管参数提取程序。它设计用于第I部分所述的基于物理的二极管模型,该模型能够模拟具有局部寿命控制的二极管。所描述的参数提取过程需要前向特性和反向恢复测量。使用有限元仿真说明了参数提取过程。然后将使用提取的参数的基于物理的模型与实验结果进行比较。

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