机译:Si / SiC混合开关的短路坚固性和失效机理
Hunan Univ, Coll Elect & Informat Engn, Changsha 410082, Hunan, Peoples R China;
Hunan Univ, Coll Elect & Informat Engn, Changsha 410082, Hunan, Peoples R China;
Hunan Univ, Coll Elect & Informat Engn, Changsha 410082, Hunan, Peoples R China;
Hunan Univ, Coll Elect & Informat Engn, Changsha 410082, Hunan, Peoples R China;
Failure analysis; gate control; hybrid switch (HyS); IGBT; short-circuit (SC); Silicon Carbide (SiC) MOSFET;
机译:使用电气,热和机械应力分析来研究SiC MOSFET短路故障机制
机译:短路和钳制电感开关应力下IGBT的故障机理
机译:短路和钳位感应开关应力下IGBT的故障机理
机译:先进的1.2kV SiC沟槽MOSFET短路故障机理的实验和数值研究
机译:拉挤玻璃-石墨/环氧混杂复合梁的冲击性能特征和建模破坏机理。
机译:坏死性小肠结肠炎发病机理中肠屏障功能衰竭的机制:像受体的收费扔开关。
机译:不同直流母线电压调查SiC MOSFET的短路故障机制
机译:空气中高温下全CVI和全pIp siC / siC复合材料的蠕变/应力断裂行为及失效机理。