机译:使用脉冲激光映射测试校正单事件闩锁率预测
University of Chinese Academy of Sciences and Center for Space Science and Applied Research, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China;
CMOS integrated circuits; Lasers; Measurement by laser beam; Protons; Random access memory; Sensitivity; Testing; In-flight rate; SRAM; pulsed laser; sensitivity mapping; single event latchup (SEL);
机译:通过脉冲激光背面辐射测试评估CMOS LSI IC中单事件闭锁效应的灵敏度参数
机译:脉冲激光在识别单事件闩锁前体中的应用
机译:基于激光剂量率测试结果的单事件闩锁阈值估计
机译:CMOS集成电路对脉冲致单事件闩锁的敏感性研究
机译:单事件闩锁:强化策略,触发机制和测试注意事项。
机译:双光子吸收脉冲激光在单事件效应灵敏度映射技术中的应用
机译:基于超短脉冲激光局部辐照的航天器电子器件仅激光单事件效应试验方法
机译:单事件效应地面测试和在轨率预测方法:过去,现在和未来。