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机译:FDTD方案中与Yee-晶格轴正交的介电界面的二阶条件
机译:通过平均沿表面法线的介电常数在倾斜介电界面上FDTD方法的二阶条件
机译:二阶精确FDTD技术在三维电介质平面介面中的应用
机译:介电常数的二阶FDTD方程
机译:具有二阶精确FDTD技术的改进的子画面方法在介质接口
机译:将FDTD吸收边界条件方法扩展到有损耗电介质,以进行微波设备建模。
机译:介电常数对贵金属/半导体SERS增强的影响:Ag / Ge和Ag / Si衬底的FDTD模拟和实验验证
机译:TM波平面电介质接口处的各向同性色散有限差时域(ID-FDTD)方案的近似数值反射系数
机译:正交坐标系下界面重构的二阶方法