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IBM experiments in soft fails in computer electronics (1978–1994)

机译:IBM在计算机电子领域的软件失败试验(1978年至1994年)

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摘要

This historical review covers IBM experiments in evaluating radiation-induced soft fails in LSI electronics over a fifteen-year period, concentrating on major scientific and technical advances which have not been previously published.
机译:这份历史回顾涵盖了IBM在过去15年中评估LSI电子产品中辐射引起的软失效的实验,重点是以前未曾发表过的重大科学和技术进步。

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