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机译:光谱椭圆偏振法在220至1200 nm范围内对次要有机材料薄膜的复合折射率
School of Engineering and Applied Sciences,Harvard University,Cambridge,Massachusetts 02138,United States;
School of Engineering and Applied Sciences,Harvard University,Cambridge,Massachusetts 02138,United States;
School of Engineering and Applied Sciences,Harvard University,Cambridge,Massachusetts 02138,United States,Department of Earth and Planetary Sciences,Harvard University,Cambridge,Massachusetts 02138,United States;
机译:椭圆偏振光谱法测定在1.2到6.5 eV不同偏压下溅射的ThO_2薄膜的折射率
机译:分光光度法和分光光度法测定CH3NH3PbI3钙钛矿薄膜的复折射率光谱
机译:通过芳族化合物甲苯和间二甲苯的光氧化产生的次级有机材料的紫外线和可见光复折射率
机译:从材料薄膜光学性质计算复杂的分散折射率
机译:从红外到紫外线的光伏应用中薄膜Si:H的光谱椭偏研究
机译:原子薄材料的各向异性复合折射率:几层黑色磷的光学常数的测定
机译:“通过光氧化芳族化合物甲苯和 m℃的紫外线和可见复合物折射索的紫外线和可见复合物折射率”的补充材料
机译:光谱椭偏法测定有机薄膜的光学性质。