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New Microelectronic Engineering Study Findings Have Been Published by Scientists at National Center for Scientific Research (CNRS)

机译:美国国家科学研究中心(CNRS)的科学家发表了新的微电子工程研究发现

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摘要

2011 MAY 18 - (VerticalNews.com) -- "Effects due to 3D level stack on highrnfrequency (HF) properties of 2D self-inductors integrated in the back end of line (BEOL) arerninvestigated," researchers in Le Bourget du Lac, France report.
机译:2011年5月18日-(VerticalNews.com)-法国Le Bourget du Lac的研究人员正在研究“由于3D水平堆叠对集成在线路后端(BEOL)中的2D自感应器的高频(HF)特性的影响”报告。

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