Vergleich gestrahlter Störfestigkeitsprüfung nach IEC 1000-4-3 mit HF-Strominjektionsprüfung auf Oberflächen von Gehäusen

摘要

Dieser Beitrag beschäftigt sich mit der Fragestellung, ob die leitungsgebundene Strominjektionsprüfung mit schmalbandigen Beeinflussungsströmen auf Oberflächen von Gehäusen vergleichbare Aussagen über die Störfestigkeit gegen HF-Störgrößen liefert wie das gestrahlte Verfahren nach IEC 1000-4-3. Hierzu wird zunächst ein geeigneter Prüfauf-bau vorgestellt, mit dem Strominjektionsprtlfungen bis 1 GHz möglich sind. Um äquivalente Prüfstörpegel für beide Verfahren zu ermitteln, werden nacheinander die eingekoppelte Störspannung in einen 19"-Baugruppenträger im gestrahlten Wellenfeld von 10 V/m und bei Strominjektion bestimmt. Anhand eines industriellen Gasanalysegerätes erfolgt anschließend ein Vergleich beider Verfahren an einem Prüfobjekt (EUT).