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机译:使用干涉层析成像系统分析聚合物微光学结构的折射率分布
Politechnika Warszawska Instytut Mikromechaniki i Fotoniki;
pomiar współczynika załamania; technologie niskonakładowe; tomografia interferencyjna;
机译:使用低相干干涉法同时测量层状结构的厚度和坍塌系数
机译:使用两参数威布尔分布对原疣土壤上的幼疣桦木林分dbh进行建模
机译:有效折射率法建模微结构光纤中的色散
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机译:在Meli Muter使用OCT的光学断层扫描的绘画和粉彩的绘画和粉彩中的非侵入性研究。