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Maximale Zuverlässigkeit im Feld

机译:现场最大的可靠性

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摘要

Viele Bücher und Artikel über das Drahtbonding wurden durch Experten geschrieben. Häufig wird die Plasmabehandlung dabei als Mittel zur Beeinflussung des Bondens oder der Zuverlässigkeit des Bonds genannt. Erheblich seltener stößt man auf Artikel von Plasma-Experten zu Plasma-Anwendungen im Mikroelektronik-Packaging und insbesondere zur Verwendung von Plasma vor dem Drahtbonden. Ein Grund hierfür könnte sein, dass sich die Wirkung von Plasma in einer Welt, in der statistische Prozesssteuerung gang und gäbe ist, auf „Unbekannte" bezieht, also etwas, das außerhalb der Prozesskontrolle liegt. Ein weiterer Grund könnte sein, dass ein Plasmaprozess von zahlreichen Parametern bestimmt wird, so dass es nicht immer unmittelbar deutlich ist, warum eine bestimmte Einstellung für eine Anwendung funktioniert, während eine zweite Anwendung mit gleichem Ziel und Zweck am besten mit einem völlig anderen Parameterset funktioniert. Plasma haftet ein wenig die Aura von „Alchemie" oder einer „Blackbox" an, dennoch gibt es realistische Erwartungen dazu, was Plasma zur Leistung eines Drahtbond-Prozesses und zur langfristigen Zuverlässigkeit eines fertig vergossenen Bauteils beitragen kann. Zudem ist eine gewisse Logik bei der Entwicklung eines Plasmavorgangs zu befolgen, obgleich diese nicht so eindeutig ist, wie man es sich vielleicht wünschen würde.
机译:专家撰写了许多有关引线键合的书籍和文章。经常提及等离子体处理作为影响键合或键合可靠性的手段。由等离子体专家找到关于微电子封装中的等离子体应用,尤其是在引线键合之前使用等离子体的文章,要少得多。其原因之一可能是,在统计过程控制普遍存在的世界中,等离子体的影响指的是“未知数”,这是过程控制之外的另一原因,可能是由于等离子体过程源自确定了许多参数,因此不能总是立即清楚地说明为什么特定设置适用于一个应用程序,而目的和目的相同的第二个应用程序使用一组完全不同的参数时效果最佳“或”“黑匣子”,但是人们对哪些等离子体可以对引线键合工艺的性能以及最终成型部件的长期可靠性有现实的期望。在开发等离子体工艺时,也需要遵循一些逻辑,尽管并非如此。正如人们所希望的那样清晰。

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