首页> 外文期刊>Elektronikpraxis >IAR erweitert Debugging- und Trace-Funktionen für ARM-Chips
【24h】

IAR erweitert Debugging- und Trace-Funktionen für ARM-Chips

机译:IAR扩展了ARM芯片的调试和跟踪功能

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

IAR Systems bietet eine neue Version der umfassenden IAR Em-bedded Workbench für ARM mit wichtigen Funktionserweiterungen an. Mit der In-Circuit-Debug-ging-Probe Ⅰ-jet Trace für ARM Cortex-A/R/M eröffnet die Toolchain Entwicklern, die mit Prozessoren der ARM-Cortex-A-, R- und M-Familien arbeiten, zusätzliche Möglichkeiten, um umfassende Einblicke in das Verhalten einer Applikation zu gewinnen und schwer auffindbare Bugs einfacher zu erkennen. Bereits jetzt wird die nächste Ge- neration der ARM Cortex-M Mik-rocontroller-Architektur ARMv8-M für eine vereinfachte Security in kleinen Embedded-Geräten unterstützt.
机译:IAR Systems提供了用于ARM的全面的IAR嵌入式工作台的新版本,具有重要的功能增强。借助适用于ARM Cortex-A / R / M的喷射跟踪在线调试探针,与ARM Cortex-A,R和M系列处理器一起使用的工具链开发人员将开拓更多可能性以获得对应用程序行为的全面了解,并确定难以发现的错误。为了简化小型嵌入式设备的安全性,已经支持下一代ARM Cortex-M微控制器体系结构ARMv8-M。

著录项

  • 来源
    《Elektronikpraxis》 |2016年第18期|48-48|共1页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 ger
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号