Messtechnik wird 'unsichtbar'

摘要

In den vergangenen zehn Jahren haben berührungslose Test-und Debugging-Verfahren ihren Nutzen für Elektronikhersteller bewiesen, denn mit Prüfspitzen kann man heute immer seltener Schaltungspunkte oder IC-Anschlüsse kontaktieren. Die Mess- und Prüftechnik muss deshalb „Embedded", also in die Chips integriert und damit „unsichtbar" werden.rnHochkomplexe BGA-Bausteine (Ball Grid Arrays), SiP- und PoP-Kompo-nenten (System-in-Package, Packages-on-Package) sowie extrem dicht bestückte Leiterplatten und immer weiter steigende Übertragungsgeschwindig-keiten machen die herkömmliche „kontaktierende" Mess- und Prüftechnik immer schwieriger einsetzbar.