首页> 外文期刊>Elektronik >Upgrade mit Unit-Test-Erweiterung
【24h】

Upgrade mit Unit-Test-Erweiterung

机译:通过单元测试扩展进行升级

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
获取外文期刊封面目录资料

摘要

Zur Ausführung von Embedded-Unit-Tests stellt iSYSTEM ab sofort einen Test-Framework mit dem Namen isystem.test zur Verfügung. Es handelt sich hier umrneine Test-Schnittstelle zur Ausführung von Unit-Tests ohne Instrumentierung des Programmcodes. Die Schnittstelle ist Teil des API ?isystem .connect" und damit integriert in die Software-Entwicklungsumgebung winIDEA. Testf?lle werden entweder über einen integrierten Wizard oder in einer Textdatei erstellt oder in den Programmcode integriert.
机译:ISYSTEM现在提供了一个名为isystem.test的测试框架,用于执行嵌入式单元测试。这是一个测试接口,用于执行单元测试而无需检测程序代码。该接口是API“ isystem .connect”的一部分,因此集成在软件开发环境winIDEA中,可以使用集成向导或文本文件创建测试用例,也可以将其集成到程序代码中。

著录项

  • 来源
    《Elektronik》 |2010年第11期|p.48|共1页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 ger
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号