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ARM selects XJTAG for RealView development tools debug and test

机译:ARM选择XJTAG用于RealView开发工具调试和测试

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摘要

HARM, the world's leading semiconductor intellectual property (IP) supplier, has reduced the time and cost of developing its range of RealView development tools by using the XJTAG boundary scan development system to improve and speed up the process of debugging and testing its high density, multi-layer development boards." ARM® technology lies at the heart of advanced digital products from mobile, home and enterprise solutions to embedded and emerging applications. ARM's comprehensive product offering includes 16/32-bit RISC microprocessors, data engines, graphics processors, digital libraries, embedded memories, peripherals, software and development tools, as well as analogue functions and high-speed connectivity products.
机译:全球领先的半导体知识产权(IP)供应商HARM通过使用XJTAG边界扫描开发系统来改善并加快其高密度调试和测试过程,从而减少了开发RealView开发工具范围的时间和成本,从移动,家庭和企业解决方案到嵌入式和新兴应用,ARM®技术是高级数字产品的核心。ARM的全面产品包括16/32位RISC微处理器,数据引擎,图形处理器,数字图书馆,嵌入式存储器,外围设备,软件和开发工具,以及模拟功能和高速连接产品。

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  • 来源
    《Electronic Product Design》 |2011年第4期|p.43|共1页
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  • 收录信息 美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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