机译:在纳米技术的工艺变化下,电源电压缩放接近基本极限
Samsung Electronics Company, Ltd., Seoul, Korea;
$beta$-ratio; Dynamic voltage scaling (DVS); fundamental limit; minimum supply voltage; noise margin; subthreshold logic;
机译:克服纳米级技术的变化
机译:纳米级技术中晶体管性能的变化和泄漏
机译:用于纳米级动态电路的带有片上漏电流传感器的过程变化补偿技术
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机译:使用多个片上测试结构研究纳米CMOS技术中的工艺变化。
机译:定量AFM压痕揭示的剪切转变导致金属玻璃变形的纳米级尺寸下限
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