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机译:APS -APS 2017年3月会议-事件-MoS2薄膜的电子能损谱(EELS)的厚度依赖性
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机译:电子能损光谱(EEL)和X射线吸收附近边缘结构(XANES)光谱法的比较研究,用于探测行星材料过渡金属氧化状态
机译:用aEs(俄歇电子能谱),Xps(诱导光电子能谱),EELs(电子能量损失谱)和LEED(低能电子衍射)研究Fe-si合金的初始氧化