机译:接触压力对铜母线连接电阻接触值和温度变化的影响
机译:低温下压铜和镀金铜接触 - 热接触电阻综述
机译:ITER DC母线系统中大电流铝-铜触点连接的老化测试
机译:温度和接触压力对低温下界面热接触电阻的影响
机译:开关柜中铜母排连接处的电接触电阻和温升的实践研究
机译:根据它们的分布确定热接触电阻和接触压力之间的关系
机译:温度分布对电触点用铜线和板的超声焊接接头的影响
机译:接触压力对铜排连接电阻接触值和温度变化的影响
机译:当镀镍铜线压接成镀金连接器触点时,确定最大可靠性连接的压痕深度和配置的研究最终报告,1966年7月1日 - 1967年5月1日