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An Efficient Functional Test Generation Method For Processors Using Genetic Algorithms

机译:利用遗传算法的处理器有效功能测试生成方法

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摘要

The paper presents a new functional test generation method for processors testing based on genetic algorithms and evolutionary strategies. The tests are generated over an instruction set architecture and a processor description. Such functional tests belong to the software-oriented testing. Quality of the tests is evaluated by code coverage of the processor description using simulation. The presented test generation method uses VHDL models of processors and the professional simulator ModelSim. The rules, parameters and fitness functions were defined for various genetic algorithms used in automatic test generation. Functionality and effectiveness were evaluated using the RISC type processor DP32.
机译:本文提出了一种基于遗传算法和进化策略的处理器测试的新功能测试生成方法。测试是通过指令集体系结构和处理器描述生成的。这样的功能测试属于面向软件的测试。使用仿真通过处理器描述的代码覆盖率来评估测试的质量。提出的测试生成方法使用处理器的VHDL模型和专业的模拟器ModelSim。为自动测试生成中使用的各种遗传算法定义了规则,参数和适应度函数。使用RISC类型处理器DP32评估功能和有效性。

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