O Microscópio de For?a At?mica (AFM): importante ferramenta no estudo da morfologia de superfícies na escala nanométrica

摘要

O surgimento do Microscópio de For?a At?mica (AFM) promoveu um grande impacto na Ciência, de uma forma geral, devido a sua capacidade de gerar imagens com resolu??o at?mica, proporcionando o estudo da morfologia de superfícies, condutoras ou n?o, em escala nanométrica. Além disso, o AFM n?o exige uma prepara??o prévia das amostras a serem estudadas, possuindo apenas uma limita??o no tamanho das mesmas devido ao porta-amostras. Um breve histórico, desde o surgimento deste microscópio até os dias atuais, e uma abordagem mais aprofundada sobre o seu funcionamento ser?o apresentados, explicitando, dessa forma, a importancia deste poderoso equipamento para a Ciência e Engenharia dos Materiais