Reproduzierbare und zuverlässige dynamische Messungen und Extraktionen aus Doppelpulstestsystemen (DPT) zu erhalten, hält für Entwickler einige Herausforderungen bereit. Doch selbst wenn diese überwunden sind, müssen sie noch die dynamischen Spezifikationen des Datenblatts mit den Ergebnissen korrelieren können, die durch das Messen und Charakterisieren von Leistungsbauteilen gewonnen werden. In den Datenblättern von Leistungsbauelementen aus Siliziumkarbid (SiC) und Galliumnitrid (GaN) sind viele dynamische Eigenschaften angegeben. Hier soll der Fokus auf den Schaltcharakteristiken (t_(d(on)),t_(r),E_((on)),t_(d(off)),t_(f),E_(off)) und den Sperrverzögerungskenn-linien (t_(rr),l_(rrm),Q_(rr)) liegen. Bild zeigt eine typische Schaltcharakteristik aus dem Datenblatt eines 1200-V-SiC-Mosfets.
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机译：为了获得从双脉冲测试系统（DPT）的可重复和可靠的动态测量和提取，为开发人员提供了一些挑战。 但即使它们被克服，它们仍然需要将数据表的动态规格与通过测量和表征功率分量获得的结果相关联。 在由碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）制成的功率部件数据表中给出了许多动态性质。 在这里，焦点应该是切换特性（t_（d（on）），t_（r），e _（（上）），t_（d（关闭），t_（f），e_（关闭）和锁定延迟。行（T_（rr），l_（rrm），q_（rr））。 图片显示了来自1200 V SIC MOSFET的数据表的典型切换特性。
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