...
首页> 外文期刊>Design & Elektronik >Ungenutztes Potenzial
【24h】

Ungenutztes Potenzial

机译:潜力无限

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
   

获取外文期刊封面封底 >>

       

摘要

Boundary-Scan ist seit vielen Jahren ein etablierter Standard zum Testen von Elektronik in der Produktion und im Prüffeld. Aber damit nutzt man nur einen kleinen Teil seiner Möglichkeiten. Boundary-Scan lässt sich auch sehr sinnvoll im Entwicklungsprozess einsetzen. Seit der Entwicklung von »Boundary Scan« in der zweiten Hälfte der achtziger Jahre wird das nach IEEE 1149.1 standardisierte Verfahren überwiegend bei Baugruppen eingesetzt, bei denen keine oder nur noch eine beschränkte Kontaktierung der Knoten möglich ist. Allerdings kann Boundary-Scan mehr leisten. Sein Einsatz ist nicht nur auf Produktion und Prüffeld beschränkt.
机译:多年来,边界扫描一直是在生产和测试领域中测试电子产品的既定标准。但是您只使用一小部分选项。边界扫描也可以在开发过程中非常有意义地使用。自从八十年代后半叶开发出“边界扫描”以来,根据IEEE 1149.1标准化的程序主要用于无法或只有有限的节点接触的组件中。但是,边界扫描可以做更多的事情。它的用途不限于生产和测试领域。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号