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Schmale Kontakte

机译:窄接触

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摘要

Je kleiner die Chipgehäuse, destornschwieriger ist es, die Schaltungen adäquatrnnach dem Löten auf der Leiterplatte zurntesten. Ein neuartiger Testsockel kann sogarrnBausteine mit einem Pitch von 0,5 mmrnsicher kontaktieren.rnQFN-Bausteine (Quad Flat No-Lead) eignen sich besonders für Anngen, in denen gute thermische und elektrische Eigenschaften in einem kleinen Gehäuseformat wichtig sind. Da diese Gehäuse keine An-schlussbeinchen besitzen, ist die Grundfläche auf der Leiterplatte kleiner, was die Gesamtkosten senkt. Zusätzlich steigt die Signalqualität durch die kürzen Signalwege.
机译:芯片外壳越小,在焊接到电路板上之后,要充分测试电路就越困难。新型测试插座可以以0.5 mm的间距接触所谓的模块,RnQFN模块(四方扁平无引线)特别适用于在小外壳尺寸下具有良好的热和电性能的应用。由于这些外壳没有连接脚,因此电路板上的占地面积较小,从而降低了总成本。另外,由于信号路径更短,信号质量也提高了。

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