Viele Testobjekte benötigen mehrere Versorgungsspannungen. Normalerweise denkt man dabei an eine Baugruppe, die +5 V und ±15 V benötigt, aber es gibt auch viele andere Konfigurationen von Testobjekten und Netzteilen. Ausgehend von diskreten Transistoren über ICs und Platinen bis hin zum fertigen Produkt sind die richtige Reihenfolge und das Timing beim Anlegen verschiedener Versorgungsspannungen zu kontrollieren. Andernfalls kann das zu Fehlfunktionen des Prüflings führen. Im schlimmsten Fall wird er durch Überströme beschädigt oder gar zerstört.
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