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BGA-Testsockel

机译:BGA-Testsockel

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摘要

Der Flip-Top-Testsockel von Advanced Interconnections (Vertrieb: Infratron) steht nun auch in einer Version für BGAs mit einem Ball-Abstand von 0,50 mm zur Verfügung. Er ist insbesondere für Debugging, Test und Validierung geeignet. Der neue Sockel ?Mod5? kann Bausteine bis zu einer Gr??e von 12 mm × 12 mm bzw. 22 Reihen × 22 Reihen aufnehmen. Die Au?enabmessungen betragen 20 mm x 27 mm. Der modulare Aufbau erm?glicht ein einfaches Aufl?ten direkt auf dem Applikationsboard. Eine zus?tzliche Befestigung ist nicht erforderlich.
机译:现在,还可提供用于球栅距为0.50 mm的BGA版本的Advanced Interconnections(销售:Infratron)的翻转式测试基座。它特别适合于调试,测试和验证。新基地吗?最多可容纳12毫米×12毫米或22行×22行的块。外部尺寸为20毫米x 27毫米。模块化结构使直接在应用板上的简单焊接成为可能。不需要额外的固定。

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  • 来源
    《Design & Elektronik》 |2013年第5期|50-50|共1页
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