机译:EWMA控制图的设计和优化,用于控制范围内,无差异和失控区域
Departamento de Estadistica e Investigacion Operativa Aplicadas y Calidad, Universidad Politecnica de Valencia, Camino de Vera s, 46071 Valencia, Spain;
statistical process control; in-control; indifference; out-of-control regions; genetic algorithms;
机译:针对控制内和失控区域进行了优化的Synthetic-X控制图
机译:估计均值和方差时,具有保证联合的控制内和控制外性能的X控制图的设计
机译:同时保证带有估计方差的S2控制图的控制内和控制外性能
机译:合成T {SUP} 2控制图的多目标优化,用于解决控制中的控制和对照区域的问题
机译:用于制造过程的多元控制图设计的多准则优化
机译:使用顺序机制增强的非参数EWMA标志控制图
机译:具有Gamma(Lambda,2)控制时间的系统的(X)杆上控制图的经济统计设计