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Improved Low-Degree Testing and its Applications

机译:改进的低度测试及其应用

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摘要

NP = PCP(log n, 1) and related results crucially depend upon the close connection between the probability with which a function passes a low degree test and the distance of this function to the nearest degree d polynomial. In this paper we study a test proposed by Rubinfeld and Sudan [30]. The strongest previously known connection for this test states that a function passes the test with probability δ for some δ > 7/8 iff the function has agreement ≈ δ with a polynomial of degree d. We present a new, and surprisingly strong, analysis which shows that the preceding statement is true for arbitrarily small ≈, provided the field size is polynomially larger than d/δ. The analysis uses a version of Hilbert irreducibility, a tool of algebraic geometry.
机译:NP = PCP(log n,1)和相关结果主要取决于函数通过低阶检验的概率与该函数到最近的d多项式的距离之间的紧密联系。在本文中,我们研究了鲁宾菲尔德和苏丹[30]提出的测试。对于该测试,以前最强的已知联系表明,对于某个δ> 7/8,如果函数具有与度为d的多项式一致的≈δ,则函数以概率δ通过测试。我们提供了一个新的且出乎意料的强大分析,该分析表明,只要字段大小比d /δ大,则上述陈述对于≈任意小都是正确的。该分析使用了Hilbert不可约性的一种形式,这是代数几何的工具。

著录项

  • 来源
    《Combinatorica》 |2003年第3期|365-426|共62页
  • 作者

    Sanjeev Arora; Madhu Sudan†;

  • 作者单位

    Department of Computer Science Princeton University;

    Laboratory for Computer Science MIT;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

    68Q10; 68Q17;

    机译:6810;6817;

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