首页> 外文期刊>Circuits, Devices & Systems, IET >Digital calibration technique using a signed counter for charge pump mismatch in phase-locked loops
【24h】

Digital calibration technique using a signed counter for charge pump mismatch in phase-locked loops

机译:使用有符号计数器的数字校准技术,用于锁相环中的电荷泵失配

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
获取外文期刊封面目录资料

摘要

The authors adopt a digital technique to calibrate the current mismatch of the charge pump in phase-locked loops. The proposed digital calibration technique using a signed counter reduces the calibration time up to a minimum of 64% as compared with the other techniques. This technique is designed by a standard 0.18 μm CMOS technology. The calibration time is 32.8 μs, the average power is 6.2 mW at a 1.8 V power supply and the effective area is 0.263 mm2.
机译:作者采用数字技术来校准锁相环中电荷泵的电流失配。与其他技术相比,使用带符号计数器的数字校准技术可将校准时间最多缩短64%。该技术是通过标准的0.18μmCMOS技术设计的。校准时间为32.8μs,在1.8 V电源下的平均功率为6.2 mW,有效面积为0.263 mm 2

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号