机译:内插误差,电极几何形状和电极-组织界面对深部脑刺激产生的电场模型的影响
Biomedical Engineering Department , Duke University, Durham, NC, USA|c|;
Computational modeling; deep brain stimulation (DBS); electric field; finite-element method (FEM); neural engineering;
机译:在治疗性深部脑刺激中,电极-大脑界面的反应性对交叉电流的影响。
机译:长期深部脑刺激在电极-组织界面的神经组织病理学发现:系统性文献综述,病例报告和刺激阈值安全性评估
机译:对大脑深部刺激电极周围伤口组织的电阻率进行阻抗检测,可以在大鼠模型中记录封装过程
机译:在深部脑刺激中模拟概率神经激活:电极-组织-界面参数不确定性的影响
机译:沿轴向轨迹记录电场电势:一种在深部脑刺激植入物手术中改善目标定位的方法。
机译:内插误差电极几何形状和电极-组织界面对深部脑刺激产生的电场模型的影响
机译:插值误差,电极几何和电极 - 组织界面对深脑刺激产生的电场模型的影响