机译:TiOx和GeOx(x <= 2)薄膜中MCs +校准因子的成分依赖性强变化
Univ Kaiserslautern, Dept Phys, D-67663 Kaiserslautern, Germany;
Univ Kaiserslautern, Inst Surface & Thin Film Anal, D-67663 Kaiserslautern, Germany;
Fudan Univ, Dept Phys, Shanghai 200433, Peoples R China;
MCs+ secondary ions; calibration factors; TiOx; GeOx; ION MASS-SPECTROMETRY; DEPTH PROFILE ANALYSIS; MOLECULAR-IONS; QUANTITATIVE-ANALYSIS;
机译:通过SIMS深度分布与元素离子和MCs +团簇对光伏CIGS薄膜进行定量分析
机译:高功率脉冲磁控溅射生长TiOx薄膜的工艺特性和薄膜性能
机译:使用KiK-net强运动记录校准放大因子:朝着现场有效估计地震烈度
机译:使用MCs +簇对光伏Cu(In,Ga)Se2薄膜进行定量元素分析
机译:强射流/弱射流燃烧器中超低氮氧化物燃烧的研究:校准和数值研究
机译:黑色TiOx薄膜具有通过反应溅射制备的光热辅助光催化活性
机译:用于光存储应用的GeOx和SbOx薄膜的成分稳定性
机译:溅射沉积氧化锗(GEOX)薄膜的光学性质与化学成分的相关性(后印刷)。