机译:用Tof-SIMS和TXRF研究金属污染的样品制备方法的不同方法
STMicroelectronks, M5 Physics Laboratory, Stradale Primosoie 50,1-95121 Catania, Italy;
Physical Electronics USA Chanhassen, MN, USA;
STMicroelectronks, M5 Physics Laboratory, Stradale Primosoie 50,1-95121 Catania, Italy;
ToF-SIMS; TXRF; Cobalt contamination;
机译:用于ToF-SIMS分析的NIH / 3T3成纤维细胞样品制备方法的表征
机译:AES和TOF-SIMS深度分析表征制备S掺杂铁样品的新方法
机译:硝酸盐污染对碳酸碳酸碳和氧同位素分析的影响及在线样品制备的低温磷酸消化方法
机译:通过反相高效液相色谱法测定土壤中农药测定流动样品制备方法研究
机译:遗传表型预测和DNA序列样品污染检测的统计方法
机译:用于ToF-SIMS分析的NIH / 3T3成纤维细胞样品制备方法的表征
机译:用于ToF-SIMS分析的NIH / 3T3成纤维细胞样品制备方法的表征