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机译:使用电荷探针确定碳纳米管中的缺陷身份
Adam Mickiewicz Univ, Fac Phys, Ul Umultowska 85, PL-61614 Poznan, Poland;
Univ Oviedo, Dept Fis, E-33007 Oviedo, Spain|Nanomat & Nanotechnol Res Ctr CINN, Oviedo, Spain;
Adam Mickiewicz Univ, Fac Phys, Ul Umultowska 85, PL-61614 Poznan, Poland;
Univ Oviedo, Dept Fis, E-33007 Oviedo, Spain|Nanomat & Nanotechnol Res Ctr CINN, Oviedo, Spain;
Carbon nanotubes; Electronic conductance; Defects; Scanning probe microscopy; Density functional theory;
机译:检测碳中的碳:通过X射线光电子能谱成像,利用差分充电获得有关复合物中碳纳米管聚集体的化学特性和空间位置的信息
机译:通过电荷调制光谱探测半导体碳纳米管网络中的移动电荷载波
机译:探索具有多个碳二聚体缺陷的单壁碳纳米管的化学功能化
机译:chi泵浦探针光谱法追踪碳纳米管网络中的电荷转移
机译:单壁碳纳米管的充电和缺陷。
机译:检测碳中的碳:利用差分充电通过X射线光电子能谱获得复合材料中碳纳米管聚集体的化学识别和空间位置信息
机译:使用电荷探针确定碳纳米管中的缺陷身份