机译:角度分辨XPS用于选择性表征多孔硅的内外表面
Univ Trento, Dept Phys, Nanosci Lab, Via Sommarive 14, I-38123 Trento, Italy|Univ Nottingham, Fac Sci, Nottingham, England;
Bruno Kessler Fdn, Ctr Mat & Microsyst, Via Sommarive 18, I-38123 Trento, Italy|Bruno Kessler Fdn, Micro Nano Facil, Via Sommarive 18, I-38123 Trento, Italy;
Univ Trento, Dept Phys, Nanosci Lab, Via Sommarive 14, I-38123 Trento, Italy;
Univ Trento, Dept Phys, Nanosci Lab, Via Sommarive 14, I-38123 Trento, Italy;
Univ Trento, Dept Phys, Nanosci Lab, Via Sommarive 14, I-38123 Trento, Italy;
Porous silicon; Porous silicon microparticles; Space selective functionalization; Angle resolved XPS; Surface hydrophilicity; Hydrophobic cavities;
机译:使用角度分辨XPS来测量高k介电材料在硅和二氧化硅表面上的部分覆盖率
机译:通过液体掩膜对中孔硅的内表面和外表面进行选择性功能化
机译:蛋白质吸附和共价键结合到用有机硅烷改性的氮化硅表面上:使用AFM,角度解析XPS和多变量ToF-SIMS分析进行比较
机译:改性硅晶片表面上形成的多孔硅层的特征
机译:ISS和角度解析XPS测定真实和平面模型氧化加氢脱硫催化剂的表面结构
机译:大表面积多孔聚合物的概念设计基于多面体低聚倍半硅氧烷前体的混合介质:多孔性的制备定制和内表面功能化
机译:NMR检测到的HostGuest质子交换作为探索含有表面OH基团的多孔固体内部和外部空间的表面/体积比和流体填充的工具