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【24h】

Sub-250 nm low-threshold deep-ultraviolet AlGaN-based heterostructure laser employing HfO2/SiO2 dielectric mirrors

机译:使用HfO2 / SiO2介电镜的亚250nm低阈值深紫外AlGaN基异质结构激光器

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摘要

We report a sub-250-nm, optically pumped, deep-ultraviolet laser using an AlxGa1-xN-based multi-quantum-well structure grown on a bulk Al-polar c-plane AlN substrate. TE-polarization-dominant lasing action was observed at room temperature with a threshold pumping power density of 250 kW/cm2. After employing high-reflectivity SiO2/HfO2 dielectric mirrors on both facets, the threshold pumping power density was further reduced to 180 kW/cm2. The internal loss and threshold modal gain can be calculated as 2 cm-1 and 10.9 cm-1, respectively.
机译:我们报告使用生长在块状Al极性c平面AlN衬底上的基于AlxGa1-xN的多量子阱结构的亚250 nm光泵浦深紫外激光器。在室温下观察到TE极化为主导的激射作用,阈值泵浦功率密度为250 kW / cm 2 。在两个面上都使用高反射率的SiO2 / HfO2介电镜后,阈值泵浦功率密度进一步降低到180 kW / cm 2 。内部损耗和阈值模态增益可分别计算为2 cm -1 和10.9 cm -1

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2013年第21期|1-4|共4页
  • 作者单位

    School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, 777 Atlantic Dr. NW, Atlanta, Georgia 30332-0250, USA|c|;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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