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Wall roughness effects on an electron bunch

机译:壁面粗糙度对电子束的影响

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摘要

The effect of the surface roughness on a moving electron bunch is considered by resorting to a model of a metallic structure with random perturbations on its surface. Based upon this model, analytic expressions have been derived for the average energy emitted per groove (EPG) and for its standard deviation. For a relativistic bunch, both quantities are shown to be virtually independent of the momentum. Moreover, it has been found that the standard deviation of the EPG is proportional to that of the roughness parameter to the power of 1/4.
机译:通过采用在其表面具有随机扰动的金属结构模型来考虑表面粗糙度对移动电子束的影响。基于此模型,已导出了每个凹槽的平均能量(EPG)及其标准偏差的解析表达式。对于相对论来说,这两个量实际上都与动量无关。而且,已经发现EPG的标准偏差与粗糙度参数的标准偏差成1/4的幂成正比。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2004年第5期|p.723-725|共3页
  • 作者单位

    Department of Electrical Engineering, Technion—Israel Institute of Technology, Haifa 32000, Israel;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:23:09

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