机译:光栅干涉仪的X射线波前分析和光学表征
Laboratory for Micro- and Nanotechnology, Paul Scherrer Institut, Villigen, Switzerland;
机译:X射线光栅干涉仪,原位和波长波前测量
机译:X射线光学技术的进展:从计量学表征到基于波前感测的有源光学器件的优化
机译:使用多毛细管光学器件作为高纵横比的二维光栅的X射线台式Talbot干涉仪的数值设计
机译:基于光栅的硬X射线Talbot干涉仪的开发,用于光学和先进光子源的束波前表征
机译:使用X射线衍射,俄歇电子能谱和磁光Kerr效应来生产,分析和表征非晶磁性材料。
机译:波前测量和硬X射线纳米封膜镜的波前测量和校正的X射线单光干涉测量
机译:在X射线区域中使用光栅干涉仪的波前测量